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Statistique d’analyse de données industrielles

Ce séminaire propose une présentation des analyses statistiques les plus fréquemment utilisées dans le cadre d’études industrielles.
Pour s’entraîner pratiquement à la manipulation des outils statistiques proposés, le logiciel utilisé sera Jmp®SAS Institute – Version 6.0.

Pour un programme sur-mesure en intra-entreprise, n'hésitez pas à nous contacter


Prochaine session :
  • 15, 16 et 17 octobre 2008
  •  

    Infos Pratiques

    Durée : 3 jours  
    Tarif : 1590 € HT  
    Lieu : Paris  
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    Objectifs

    • Savoir mener :
      • une Régression Linéaire Multiple
      • une Analyse en Composantes Principales
      • une Régression PLS
      • une Analyse de Variance Multiple
    • Disposer pour chacune de ces méthodes :
      • de ses cas d’emplois
      • d’une démarche rigoureuse d’investigation
      • des clés d’interprétation et de critique de leurs résultats
      • d’une connaissance de leurs limites
    • Savoir choisir l’outil statistique adapté à sa problématique industrielle


    Vous êtes concernés

    Vous êtes ingénieur ou technicien de laboratoire, de fabrication ou de l’équipe Qualité.



    Programme

    • Régression Linéaire Multiple (RLM)
    • Analyse en Composantes Principales (ACP)
    • Application de la Régression PLS sur la base de l’exemple montrant les limites de la RLM
    • Analyse de Variance Multiple
    • Justification de l’intérêt de la Planification Expérimentale



    Intervenant

      Olivier BRACK

    Directeur général et fondateur de Khi² Consulting - Conseil et formation en statistique industrielle

    Intervenant dans les secteurs agroalimentaire, métallurgie, bâtiment, automobile, armement, chimie, pétrochimie, cosmétiques et santé

    Enseignant à l'Institut Supérieur des Industries de la Parfumerie, de la Cosmétique et des Arômes Alimentaires (ISIPCA)



    Voir aussi
    Plan d’expérience - Initiation
    Plan d’expérience - Perfectionnement
    Statistique appliquée à la Maîtrise Statistique des Processus

     
     
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